光電元件模組多功能測試系統(tǒng)

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產品名稱: 光電元件模組多功能測試系統(tǒng)

產品型號: 58625

產品展商: Chroma

產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

多合一整合型測試機可彈性安排多種測試站具精準之溫度平臺控制能力溫控范圍可達-20~85℃ 光學模組可支援大角度之發(fā)光角量測實現奈秒級高速測試 (選配)

光電元件模組多功能測試系統(tǒng) 的詳細介紹

產品特色

多合一整合型測試機
可彈性安排多種測試站
具精準之溫度平臺控制能力
溫控范圍可達-20~85℃
光學模組可支援大角度之發(fā)光角量測
實現奈秒級高速測試 (選配)

應用范圍

3D感測發(fā)光模組與晶片特性測試
車用Lidar發(fā)光模組與晶片特性測試
各種雷射(Laser)產品之特性測試

Chroma 58625為3D感測發(fā)光模組之特性測試設備，可結合各種不同光學模組于同一自動化平臺，精準控制溫度并完成所有測試。依不同光學模組之安排，其測試內容涵蓋電性、光能量、波長、近場光學、遠場光學等各種光電特性參數，非常適合3D 感測發(fā)光元件之產品開發(fā)與產品品質出入料檢驗。

光能量與波長量測(LIV+λ)

搭配高性能積分球與高解析度光譜儀可應用于量測3D感測發(fā)光模組之光能量與波長特性，Chroma 58625并提供彈性化設計，使用者可依不同之測試需求自訂測試情境，透過光能量(Light Power)、電流(Current)、電壓(Voltage) 的掃描測試，可推算出各種光電參數如閥值電流(Ith)、光電轉換效率(PCE)、斜率效率(SE)。

遠場光學量測 (Far Field Test)

于3D感測發(fā)光模組的遠場光學量測應用上，Chroma 58625以屏幕投影式技術，可量測高達120度發(fā)散角之3D感測發(fā)光模組，利用Chroma開發(fā)之獨特演算法，分析遠場光型，獲得發(fā)散角、均勻性(beam uniformity)與IEC 60825人眼**規(guī)范Class 1的自動判斷。另外，Chroma 58625亦可搭配beam profiler，提供更高解析度之測試需求。

近場光學量測 (Near Field Test)

近場光學量測主要應用于3D感測模組中發(fā)光晶片(Laser Diodes)之近場光學量測，搭配高性能之顯微鏡模組與自動尋光平臺，可量測雷射(Laser Diodes)之光腰寬(Beam waist W0)、發(fā)散角(divergence angle)、射束品質(beam propagation ratio M2)；另外，應用于多光源雷射(Laser array)時，透過Chroma獨特的影像分析技術可獲得雷射光強度均勻性(uniformity)之資訊。